Описание

Установка HAWK-8200S представляет собой тестер, предназначенный для выполнения различных тестов по измерению механической прочности соединений на производстве изделий микроэлектроники: сдвиг кристаллов или шариков сварных соединений, отрыв сварных соединений, сдвиг или на отрыв бампов и пр. Установка универсальна – она оснащается сменными картриджами, предназначенными для выполнения разных тестов.

Выполняемые тесты: сдвиг кристаллов (Die shear), сдвиг шариков (Ball shear), отрыв сварных соединений (Wire pull) и другие. Система управляется двумя эргономическими манипуляторами (джойстиками).

 

 

Особенности модели:

• Компактный, эргономичный и современный дизайн;
• Держатели изделий: 50х50 мм (базовый), 100х100, 200х200, 300х300 опционально;
• Электромагнитное крепление измерительного картриджа обеспечивает выполнение тестов с высокой точностью даже при приложении большой нагрузки;
• Сменные картриджи, предназначенные для разных видов тестов;
• Максимальное усилие на сдвиг 100 кгс (стандарт) или 500 кгс (опционально);
• Точность измерения < ±0,15%;
• Удобный и интуитивно понятный графический интерфейс;
• Два джойстика. На левом джойстике расположена кнопка, регулирующая скорость перемещения по осям. На правом – кнопка старта выполнения теста;
• Интерфейс TCP/IP, SEC/GEM;
• Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA). Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA).

 

Технические характеристики

Параметры	HAWK-8200S
Виды картриджей	от 100 г до 200 кг (до 500 кг опционально)
Габариты установки (без компьютера)	350х675х435 мм
Вес	80 кг
Увеличение микроскопа	х45 / х90
Базовая конфигурация	база, 17”-монитор, микроскоп, джойстики, клавиатура, мышь, программное обеспечение, набор весовых гирек, набор для калибровки, инструменты на отрыв (сдвиг), держатель изделий
Диапазон перемещения инструмента по осям XY / точность / воспроизводимость / разрешение / максимальная скорость	50х50 мм / ±10 мкм / ±5 мкм / менее 1 мкм / 2 мм/с
Ход инструмента по оси Z / точность	65 мм / ±10 мкм
Статистическая обработка данных	ранжирование дефектов, Макс/Сред/Мин  значения, стд. отклонение, Cpk, Cp, Отказы, %Отказов, X-R контрольные карты, гистограммы, круговые диаграммы
Максимальная скорость тестирования	5000 мкм/с
Точность по Z в диапазоне 2 мм	±2 мкм
Полная точность обратного хода	±1 мкм на 25 мкм перемещения по оси Z
Разрешение по оси Z	0,125 мкм
Общая точность и повторяемость системы	±0,15%
Питание	220/240 В, 50/60 Гц
Сжатый воздух	5 бар, 6 мм / 4 мм (внешний/внутренний)
Вакуум	мин. 0,6 бар, 6 мм